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<journal-title><![CDATA[Revista Técnica de la Facultad de Ingeniería Universidad del Zulia]]></journal-title>
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<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Fault detection and diagnosis using robust transition structures]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="es"><p><![CDATA[Las estructuras de transición robusta aplicada originalmente al control de procesos con diferentes regímenes de operación, se plantean como alternativa para la detección y el diagnóstico de fallas. Una de las ventajas de este método es la reducción en la complejidad matemática inherente a muchas estructuras aplicadas a la detección y el diagnóstico de fallas. El esquema propuesto utiliza modelos matemáticos paramétricos para caracterizar las fallas en los instrumentos. Finalmente esta técnica es probada mediante simulaciones utilizando como proceso el modelo de un tanque de agitación continua.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  <BASEFONT SIZE="3"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2">     <P ALIGN="center"><b><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="4"> Fault detection and diagnosis using robust transition structures</FONT></b></P>     <P ALIGN="center"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> Betsy S&#225;nchez y Rub&#233;n Rojas</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"><SUP>1</SUP>Decanato de Investigaci&#243;n. Universidad Nacional Experimental del T&#225;chira.  San Crist&#243;bal 5001. Venezuela. E-mail: bsanchez@unet.edu.ve. <SUP>2</SUP>Escuela de  Ingenier&#237;a El&#233;ctrica. Universidad de los Andes. M&#233;rida 5101. Venezuela.  E-mail: rdrojas@ula.ve</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>Abstract</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> The robust transition structures originally applied to control processes  with different operation points, is presented as alternative for fault  detection and diagnosis. An advantage of this method is the reduction of  the mathematical complexity inherent to many structures applied to fault  detection and diagnosis. The proposed method utilizes parametric mathematical  models to characterize the faults in the instruments. Finally, this scheme  is tested by means of computer simulations through a Continuous Stirred  tank Reactor (CSTR) model as a process.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> <B>Key Words:</B> Detection, diagnosis, fault, transition structure, computer simulation</FONT></P>     <P ALIGN="center"><b><FONT COLOR="#1f1a17"> Detecci&#243;n y diagn&#243;stico de fallas utilizando estructuras de transici&#243;n  robusta</FONT></b></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>Resumen</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Las estructuras de transici&#243;n robusta aplicada originalmente al control  de procesos con diferentes reg&#237;menes de operaci&#243;n, se plantean como alternativa  para la detecci&#243;n y el diagn&#243;stico de fallas. Una de las ventajas de este  m&#233;todo es la reducci&#243;n en la complejidad matem&#225;tica inherente a muchas  estructuras aplicadas a la detecci&#243;n y el diagn&#243;stico de fallas. El esquema  propuesto utiliza modelos matem&#225;ticos param&#233;tricos para caracterizar las  fallas en los instrumentos. Finalmente esta t&#233;cnica es probada mediante  simulaciones utilizando como proceso el modelo de un tanque de agitaci&#243;n  continua.</FONT></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> <B>Palabras clave: </B>Detecci&#243;n, diagn&#243;stico, fallas, estructura de transici&#243;n, simulaciones  en computador.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"><FONT COLOR="#1f1a17">Recibido el 19 de Enero 2004</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"><FONT COLOR="#1f1a17">En forma revisada el 31 de Enero 2005</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>1. Introducci&#243;n</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Cuando un proceso industrial presenta desviaciones en sus par&#225;metros, sus  salidas generalmente no corresponden a los valores normales dentro del  rango de operaci&#243;n. Estas desviaciones podr&#237;an ser causadas por desperfectos  o mal funcionamiento de los dispositivos implicados dentro de dicho proceso.  Las salidas no deseadas son consideradas fallas, es decir, desviaciones  del comportamiento normal de la planta o de su instrumentaci&#243;n.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Se han realizado muchas investigaciones para la detecci&#243;n y el diagn&#243;stico  de fallas, mediante la aplicaci&#243;n de algoritmos matem&#225;ticos y modelos de  se&#241;ales. Las primeras investigaciones se realizaron al principio de la  d&#233;cada de los 70, basadas en el dise&#241;o de observadores y uso de filtros.  M&#225;s adelante se desarroll&#243; el principio de redundancia anal&#237;tica [2]. Posteriormente  se implement&#243;, por primera vez, un sistema de monitoreo especializado para  la detecci&#243;n y diagn&#243;stico de fallas en una planta nuclear [3]. En los  &#250;ltimos a&#241;os han sido investigadas y aplicadas t&#233;cnicas prometedoras como  lo son: el espacio de paridad [4], la l&#243;gica difusa y las redes neuronales  [5], entre otras.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Muchos de los m&#233;todos desarrollados presentan el uso de un modelo matem&#225;tico  del proceso, el cual en algunos casos no es posible de obtener f&#225;cilmente,  adem&#225;s incluyen un an&#225;lisis matem&#225;tico que presenta considerable complejidad.  En otros m&#233;todos, se requiere de dispositivos externos cuyo costo, tama&#241;o  o peso, limita su uso.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Un enfoque alternativo para la detecci&#243;n y diagn&#243;stico de fallas est&#225; referido  al dise&#241;o de modelos de fallas y an&#225;lisis de error, en donde las posibles  fallas son representadas por modelos matem&#225;ticos y patrones que son capaces  de reconocer la ocurrencia de una falla en un momento determinado [6].  En forma similar a este enfoque se ha planteado la t&#233;cnica de estructuras  de transici&#243;n robusta que ha mostrado ser efectiva para el control de procesos  con m&#250;ltiples reg&#237;menes o puntos de operaci&#243;n [7].</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Por lo anteriormente expuesto este trabajo propone el uso de la t&#233;cnica  estructura de transici&#243;n robusta para la detecci&#243;n y diagn&#243;stico de fallas.  Por las caracter&#237;sticas del m&#233;todo y de los sistemas a los que se aplica  (cambio en el r&#233;gimen de operaci&#243;n), las estructuras de transici&#243;n se plantean  como alternativa para la detecci&#243;n de fallas, pues en este caso tambi&#233;n  se presentan cambios en las caracter&#237;sticas del proceso que son tomadas  en cuenta para el dise&#241;o del m&#233;todo, que incluye una biblioteca de modelos  representativos de las fallas, estim&#225;ndose as&#237; entonces que las estructuras  de transici&#243;n son viables para la detecci&#243;n y diagn&#243;stico de fallas.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>2. Metodolog&#237;a Propuesta</B></FONT></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> En esta secci&#243;n se presenta la metodolog&#237;a propuesta para la detecci&#243;n  y el diagn&#243;stico de fallas. En primer lugar, se detalla el m&#233;todo de estructuras  de transici&#243;n robusta para el control de sistemas con m&#250;ltiples reg&#237;menes  de operaci&#243;n, como base para la comprensi&#243;n del m&#233;todo propuesto. Inmediatamente  se expone el esquema de detecci&#243;n y diagnostico de fallas usando estructuras  de transici&#243;n robustas. Adem&#225;s, se incluye la metodolog&#237;a para el modelado  de las fallas en sensores y actuadores utilizados en los ejemplos de simulaci&#243;n,  as&#237; como, las condiciones de experimentaci&#243;n utilizadas en dichos ejemplos.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> <B>2.1. Estructuras de Transici&#243;n para el control de sistemas con diferentes  reg&#237;menes de operaci&#243;n</B></FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> El m&#233;todo presentado est&#225; basado en un trabajo de Debin Sun y Karlene Hoo  [7], para el control de procesos con diferentes regimenes cuando un sistema  de control tradicional con par&#225;metros fijos no es capaz de mantener el  proceso dentro de los rangos normales para su buen funcionamiento.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Esta estructura est&#225; compuesta de diferentes controladores candidatos,  una biblioteca de modelos y un supervisor de transici&#243;n (<a href="#f1">Figura 1</a>):</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="center"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <a name="f1"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img01.gif" width="543" height="340"></a></MULTICOL></P>     
<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Biblioteca de Modelos: se construyen modelos identificando los modelos  lineales en cada uno de los diferentes reg&#237;menes de operaci&#243;n.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Biblioteca de controladores candidatos: deber&#225; ser dise&#241;ado un controlador  por cada r&#233;gimen de operaci&#243;n o cada modelo nominal.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Supervisi&#243;n de Transici&#243;n: La funci&#243;n de este bloque es decidir mediante  l&#243;gica cu&#225;l de los controladores candidatos es el mejor para mantener el  proceso y cuando debe ser colocado en el lazo de realimentaci&#243;n del proceso.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> <B>2.2. M&#233;todo de Detecci&#243;n y Diagn&#243;stico propuesto</B></FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Inicialmente se define el error como el valor absoluto puntual entre la  salida del proceso y los modelos del proceso en operaci&#243;n normal y cada  una de las fallas. Luego se halla un umbral de error permisible para considerar  al proceso libre de falla, sobre la base de los hist&#243;ricos y el conocimiento  heur&#237;stico del proceso. El Proceso de Detecci&#243;n y Diagn&#243;stico de falla  se lleva a cabo en dos etapas: la primera etapa consiste en una primera  verificaci&#243;n en l&#237;nea. La detecci&#243;n de la falla se realiza con la medida  de los valores de error. Seg&#250;n sea este error, se genera un c&#243;digo que  indica si existe un desajuste del proceso. A partir de este c&#243;digo se verifica  la existencia o no de la falla.</FONT></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> El c&#243;digo de falla es un binario de n bits (est&#225; formado por ceros y unos),  seg&#250;n la ubicaci&#243;n de los unos, va a advertir al sistema de detecci&#243;n que  existe una anormalidad. El n&#250;mero n de bits del c&#243;digo va a depender del  n&#250;mero de modelos de fallas detectadas, un ejemplo de diferentes c&#243;digos  de falla se muestra en la <a href="#f2">Figura 2</a>. En caso de que no se establezca en  esta primera etapa el origen de la falla, es decir, que la falla se haya  producido en un valor diferente o en las vecindades del valor en el cual  se ha identificado la misma, se genera el siguiente c&#243;digo de falla:</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P> <basefont> <table rules="all" width="123" border="1" id="table1"> 	<tr> 		<td vAlign="top" width="12"> 		    <p align="center"><font color="#1f1a17">0&nbsp;</font></td> 		<td vAlign="top" width="12"> 		    <p align="center"><font color="#1f1a17">0&nbsp;</font></td> 		<td vAlign="top" width="12"> 		    <p align="center"><font color="#1f1a17">0&nbsp;</font></td> 		<td vAlign="top" width="12"> 		    <p align="center"><font color="#1f1a17">0&nbsp;</font></td> 		<td vAlign="top" width="12"> 		    <p align="center"><font color="#1f1a17">0&nbsp;</font></td> 	</tr> </table>     <p align="center"><a name="f2"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img02.gif" width="508" height="228"></a></p>     
<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Este c&#243;digo informa al sistema de detecci&#243;n la presencia de una irregularidad,  pero que no es posible detectarla en esta primera fase, por ello se pasa  autom&#225;ticamente a la segunda etapa que se realiza en el proceso fuera de  l&#237;nea. En esta segunda etapa se calculan los errores entre la salida registrada  del proceso y la salida de otro banco de modelos que han sido hallados  previamente en las vecindades de los distintos tipos de fallas que fueron  identificadas en la primera etapa, procedi&#233;ndose as&#237; al proceso exacto  de detecci&#243;n.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Cuando ocurre un cambio de referencia, es detectado antes y ser&#225;n activados  los modelos correspondientes a este valor de referencia.</FONT></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Este sistema de detecci&#243;n utiliza la informaci&#243;n proveniente del proceso,  mediante el uso de medidores que permiten el flujo de datos hac&#237;a el sistema  de detecci&#243;n seg&#250;n el esquema de la <a href="#f3">Figura 3</a>. El patr&#243;n de salida es mostrado  y se toma la decisi&#243;n si existe o no la anormalidad y si es necesario pasar  a la segunda etapa. En ese caso se enviar&#225; una se&#241;al para el comienzo de  registro de los datos para el proceso fuera de l&#237;nea ya descrito antes.</FONT></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="center"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <a name="f3"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img03.gif" width="454" height="446"></a></MULTICOL></P>     
<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Al establecer el origen de la falla se proceder&#225; a tomar las medidas necesarias  para que el proceso contin&#250;e su operaci&#243;n dentro de los par&#225;metros normales  para su buen funcionamiento.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> <B>2.3. Modelado de fallas en los Instrumentos y Actuadores</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Un instrumento se considera libre de falla si la relaci&#243;n entre los valores  reales de la variable, comprendidos dentro del campo de medida, y los valores  de lectura del aparato, es lineal [8], tal como se observa en la <a href="#f4">Figura  4</a>. As&#237; es posible expresar el modelo de las fallas de los instrumentos  como la ecuaci&#243;n de la recta que relaciona la variable dependiente con  la variable independiente del instrumento, tomando en cuenta los par&#225;metros  involucrados se obtiene la siguiente ecuaci&#243;n:</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="e1"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06ec1.gif" width="324" height="50"></a></P>     
<P ALIGN="center"><a name="f4"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img04.gif" width="313" height="237"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Seg&#250;n la recta representativa de la figura, <I>lec(t)</I>, representa la lectura  del instrumento en el instante <I>t</I>; <I>v(t)</I>, es el valor de la variable medida  en el instante <I>t</I>; <I>lec </I>max y <I>lec </I>min, definen los valores de lectura m&#225;xima  y m&#237;nima del instrumento, respectivamente. Mientras que <I>Vr</I>max y <I>Vr</I>min<I>,</I>  los valores m&#225;ximo y m&#237;nimo de salida de la variable real.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> El instrumento y sus partes deben ser representados en forma dinámica por lo que  la <a href="#e1">Ecuación (1)</a> se convierte en una ecuación dinámica siguiendo un  comportamiento de primer orden.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="e2"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06ec2.gif" width="323" height="52"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> siendo<i> <font face="Times New Roman">&#964;</font> </i>la constante de tiempo del bloque que representa al instrumento.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> Seg&#250;n se presenten desviaciones del valor medido respecto a la recta representativa  de un instrumento t&#237;pico (<a href="#f4">Figura 4</a>) se tendr&#225;n alteraciones en los componentes  del dispositivo modelado. Esto representa las fallas de medida del aparato,  tales como falla en el span, (desviaci&#243;n positiva, manteniendo el cero  fijo) falla en la zona muerta (ZM) del span (desviaci&#243;n negativa de la  recta, manteniendo el cero fijo), falla en la calibraci&#243;n del cero (desviaci&#243;n  paralela positiva de la recta) y falla en la zona muerta (ZM) del cero  (desviaci&#243;n paralela negativa de la recta), tal como se muestra en la  <a href="#f5">Figura  5</a>. De esta forma es posible modelar algunos tipos de falla en los instrumentos  del proceso mediante simple variaci&#243;n de alguno de los par&#225;metros de <a href="#e2">Ecuaci&#243;n  (2)</a> (<I>lecmax</I>, <I>lecmin</I>,<I> Vrmax</I> y <I>Vrmin</I>)</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f5"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img05.gif" width="413" height="342"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Las fallas en el actuador son modeladas a partir de las caracter&#237;sticas  lineales inherentes a las v&#225;lvulas. En general se considera sin falla si  mantiene su relaci&#243;n original entre la se&#241;al de control relativa y su correspondiente  flujo relativo, as&#237; entonces cualquier falla puede ser reflejada como desviaci&#243;n  de dicha relaci&#243;n.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> En forma general y para efectos de modelado la relaci&#243;n entre la se&#241;al  de control y el flujo de la v&#225;lvula puede ser representada mediante la  siguiente ecuaci&#243;n:</FONT></P>     <P ALIGN="center"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06ec3.gif" width="322" height="46"></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Donde <I>Q</I>max y <I>Q</I>min, son los flujos m&#225;ximo y m&#237;nimo permitidos para la se&#241;al  de control <I>U</I>max y <I>U</I>min, respectivamente Al igual que en el caso anterior,  variaciones sobre los par&#225;metros son desviaciones en la relaci&#243;n entre  el flujo y la se&#241;al de control y representan las fallas del dispositivo.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> <B>2.4. Condiciones de Experimentaci&#243;n</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Para las simulaciones planteadas y el an&#225;lisis subsiguiente se deben considerar  algunas suposiciones:</FONT></P>     <p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Las fallas son modeladas como t&#233;rminos aditivos de los par&#225;metros de la  instrumentaci&#243;n.&nbsp; </FONT></p>     <p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Se consideran perturbaciones de hasta un 5% del valor normal en el flujo  de entrada&nbsp; </FONT></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Se asume que ocurre una sola falla a la vez.&nbsp; </FONT></p>     <p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Para la validaci&#243;n de la t&#233;cnica de detecci&#243;n de fallas se usa la prueba  T &#150; Student [12], con esta prueba se confirma que los modelos hallados  discriminan la falla existente. Considerando los resultados estad&#237;sticamente  significativos para valores de p&gt;0.4&nbsp; </FONT></p>     <p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Se toman en cuenta v&#225;lvulas lineales y transmisores sin retardo de tiempo.&nbsp; </FONT></p>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>3. Ejemplo de Simulaci&#243;n</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> En esta secci&#243;n se presentan los resultados de aplicar la t&#233;cnica propuesta  a un proceso no lineal, un tanque reactor de agitaci&#243;n continua, ante fallas  en el transmisor y en el actuador de la v&#225;lvula.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Este tanque, <a href="#f6">Figura 6</a>, es usado para un proceso de vapor cuyos componentes  premezclados logran una composici&#243;n uniforme. El modelo matem&#225;tico se obtiene  mediante balances de Energ&#237;a y Masa en el tanque y el serpent&#237;n [9]:</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f6"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img06.gif" width="423" height="418"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> <I>dT/dt= 0,00833f(t)Ti(t)- 0,00833f(t) T(t) &#150;0,0 769(T(t)-Ts(t)) dTs/dt=  3,636W(t) &#150; 1,909(Ts(t)-T(t))&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp; </I>(4)</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> donde T(t): Temperatura del tanque (Variable controlada), Ts(t): Temperatura  del vapor de condensado del serpent&#237;n utilizado para el calentamiento del  tanque, Ti(t): Temperatura del flujo de entrada.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Un controlador proporcional integral PI es usado para regular la temperatura  en el tanque manipulando la posici&#243;n de la v&#225;lvula de vapor. Para la simulaci&#243;n  de este proceso el controlador PI es sintonizado por el m&#233;todo de Ziegler  y Nichols en una primera aproximaci&#243;n que luego fue ajustado variando manualmente  los par&#225;metros del controlador, hasta obtener la respuesta deseada.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17"> <B>3.1. Modelado del Proceso en Operaci&#243;n Normal y en Falla</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Para realizar el modelado de los procesos en operaci&#243;n normal y en falla  se plante&#243; la identificaci&#243;n mediante modelos param&#233;tricos bajo la estructura  ARX, <a href="#e5">Ecuaci&#243;n (5)</a>. Dicha identificaci&#243;n se realiza excitando al sistema  con una perturbaci&#243;n de entrada (se&#241;al PBRS, secuencia binaria seudo  aleatoria) y midiendo la respectiva salida [11].</FONT></P>     <P ALIGN="center"><FONT COLOR="#1f1a17"> <i><a name="e5"></a>A</i>(<i>q</i><sup>-1</sup>) <i>y</i>(<i>t</i>) = <i> B</i>(<i>q</i><sup>-1</sup>) <i>u</i>(<i>t</i>) + <i>e</i>(<i>t</i>)&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp; (5)</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Basado en los hist&#243;ricos del proceso, se dise&#241;an cada uno de los modelos  que representan el proceso en su operaci&#243;n normal y en cada una de las  fallas existentes o de las que se tenga un registro. Se halla un primer  modelo sencillo cuyo orden va en aumento hasta alcanzar el orden que satisfaga  los requerimientos para el fin que fue dise&#241;ado, en este caso que pueda  describir la falla que ocurre en un momento determinado. Dichos modelos  son validados utilizando una prueba de autocorrelaci&#243;n, estableci&#233;ndose  un 90% como l&#237;mite de confianza del error [10].</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>Simulaciones de Fallas</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Para simular las fallas de la instrumentaci&#243;n utilizada, transmisores y  v&#225;lvulas, se introducen desviaciones simuladas en sus par&#225;metros como perturbaciones  aditivas de tipo escal&#243;n y de amplitud de un 10% en los par&#225;metros del  instrumento, tales como, fallas en el span del transmisor (FST), falla  en la zona muerta del span del transmisor (ZMST), falla en la calibraci&#243;n  del cero del transmisor (FCCT), falla en la zona muerta del cero del transmisor  (FZMCT), falla en el span del la v&#225;lvula (FSV), falla en la zona muerta  del span de la v&#225;lvula (FZMSV). Luego de simular las desviaciones en los  par&#225;metros y con las amplitudes especificadas, se obtienen las salidas  de cada uno de los modelos hallados previamente, midiendo el valor absoluto  del error y obteniendo as&#237; el c&#243;digo de falla para determinar si existe  alguna anormalidad en el proceso. Si las fallas ocurren sobre algunas variaciones  de los valores en los que han sido modeladas se tienen modelos fuera de  l&#237;nea y ser&#225;n utilizados s&#243;lo si los modelos principales no logran detectar  el origen de la falla existente, seg&#250;n el c&#243;digo de falla arrojado por  el sistema de detecci&#243;n.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Tambi&#233;n se consideraron perturbaciones o ruidos que no son ocasionados  por fallas en la instrumentaci&#243;n, sino por variaciones y/o ruidos inherentes  al proceso, con el fin de verificar la salida y robustez del m&#233;todo propuesto.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"> <B>Cambio de Referencia</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"> Para un cambio en el set&#150;point o valor de referencia se consideran dos  posibles soluciones:</FONT></P>     <p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Eliminar el efecto de cambio: para ello se dise&#241;a la funci&#243;n de transferencia  representativa de la variaci&#243;n del set&#150;point. Esta funci&#243;n de transferencia  representa la relaci&#243;n entre la se&#241;al de control y el cambio en el set&#150;point,  y es restado del valor de la se&#241;al de control cuando ocurre el cambio.&nbsp; </FONT></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">- Dise&#241;o de un segundo banco de modelos calculados incluyendo la variaci&#243;n  en el set&#150;point: se toma como ejemplo una variación del 10% del valor  original de referencia y se realiza el cálculo de los modelos de igual forma que  el caso anterior.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></p>     <p align="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"><B>4. Resultados</B></FONT></p>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">Para el tanque reactor de agitaci&#243;n continua simulado, se determin&#243; que  los modelos en funciones de transferencia de cuarto orden representan mejor  las fallas. Esto se comprob&#243; mediante validaci&#243;n usando la prueba de autocorrelaci&#243;n.  La <a href="#f7">Figura 7</a> corresponde al error entre la salida de cada uno de los modelos  y la del proceso real cuando se produce una FST, a partir de la muestra  1250, con una desviaci&#243;n del 10% del valor normal del par&#225;metro correspondiente.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f7"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img07.gif" width="357" height="420"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">Puede notarse que el menor error es el correspondiente al modelo hallado  para una FST. El c&#243;digo de falla generado 1 0 0 0 0 0 0, en este caso de 7 bits, por el n&#250;mero de fallas  tomadas en cuenta, advierte que existe una FST.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">Seg&#250;n la <a href="#t1">Tabla 1</a>, se verifica tambi&#233;n que la mayor probabilidad se obtiene  para el modelo correspondiente a una FST, esto indica como el m&#233;todo logra  discriminar la falla ocurrida al presentar un resultado estad&#237;sticamente  significativo.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="t1"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06tab1.gif" width="320" height="280"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"><B>Perturbaciones en el Proceso</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">La <a href="#f8">Figura 8</a> muestra el error entre la salida del proceso y de cada uno  de los modelos cuando es simulado una perturbaci&#243;n en el flujo de entrada  de tipo escal&#243;n, del 4% de su valor normal. Puede observarse que el menor  error, durante la perturbaci&#243;n, ocurre entre la salida del proceso y el  modelo del proceso en operaci&#243;n normal. Sin embargo, este error es considerable,  debido que las condiciones de modelado hab&#237;an sido otras.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f8"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img08.gif" width="398" height="508"></a></P>     
]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17"><B>Cambio de Referencia</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">La <a href="#f9">Figura 9</a> muestra las salida del proceso y de cada uno de los modelos  hallados, cuando se simula un cambio en el valor de referencia, estos modelos  son aquellos dise&#241;ados sin tomar en cuenta dicho cambio.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f9"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img09.gif" width="399" height="488"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">Puede notarse que si se utilizan estos modelos, al ocurrir un cambio de  referencia, en el instante 500 la falla producida posteriormente (instante  1500, en la FZMST) no es identificada por los modelos existentes. As&#237; surge  la necesidad de utilizar un banco de modelos diferente para el cambio de  referencia. La <a href="#f10">Figura 10</a> muestra el error entre las salidas del proceso  y de cada uno de los modelos hallados tomando en cuenta el cambio de referencia,  puede observarse que en este caso la salida que mas se aproxima al modelo  real es el modelo correspondiente a una FZMST, siendo la falla simulada.</FONT></P>     <P ALIGN="center"><a name="f10"> <img border="0" src="/img/fbpe/rtfiuz/v28n1/art06img10.gif" width="399" height="470"></a></P>     
<P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"><B>5. Conclusiones</B></FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">Se propuso una nueva alternativa para la detecci&#243;n y el diagn&#243;stico de  fallas, basada y aprovechando las caracter&#237;sticas de un m&#233;todo utilizado  originalmente para el control de procesos con diferentes reg&#237;menes de operaci&#243;n.  Una de las ventajas del m&#233;todo propuesto es la utilizaci&#243;n de s&#243;lo la se&#241;al  de entrada (se&#241;al de control) y la salida del proceso, para la obtenci&#243;n  de los modelos. Adem&#225;s de ser una t&#233;cnica que no requiere demasiada complejidad  matem&#225;tica al ser utilizadas s&#243;lo se&#241;ales disponibles y el uso de las t&#233;cnicas  de identificaci&#243;n param&#233;tricas, es decir, est&#225; entonces, orientada a un  sentido pr&#225;ctico que pueda ser implementado en cualquier tipo de procesos.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">El an&#225;lisis se realiz&#243; para fallas que est&#225;n presentes en el proceso bajo  control, es decir, que con ello puede demostrarse que cualquier anormalidad  del proceso puede ser representada por un modelo matem&#225;tico, mediante sistemas  de Identificaci&#243;n, bas&#225;ndose, claro est&#225; en los hist&#243;ricos del proceso  bajo estudio, cumpliendo as&#237; con el objetivo inicial del estudio. Con la  segunda etapa fuera de l&#237;nea se evita la ejecuci&#243;n de todos los modelos,  pues s&#243;lo se ir&#225; a ella en caso de ser necesario, esto es, si con los modelos  principales no es posible hallar la localizaci&#243;n de la falla ocurrida,  adem&#225;s con ello se toman en cuenta las fallas que puedan ocurrir en las  cercan&#237;as de los valores originalmente modelados.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17">A medida que sean tomadas en cuenta un mayor n&#250;mero de fallas, el n&#250;mero  de modelos ir&#225; en aumento, lo que podr&#237;a representar un posible inconveniente  al presentarse nuevas fallas, pero que pueden tambi&#233;n ser reagrupadas seg&#250;n  las caracter&#237;sticas que presenten.</FONT></MULTICOL><MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"></MULTICOL></P>     <P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17">Otra ventaja de este m&#233;todo, como se mencion&#243; antes es el tomar en cuenta  un mayor rango de valores para las posibles fallas, con los modelos que  se encuentran fuera de l&#237;nea. Adem&#225;s permite tener un grado de confiabilidad  en los resultados por la aplicaci&#243;n de la prueba T-Student, estableciendo  la pertenencia de la salida del proceso en un determinado momento a los  modelos de las fallas existentes.</FONT></MULTICOL></P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P ALIGN="justify"> <MULTICOL GUTTER="39" COLS="2"> <FONT COLOR="#1f1a17">Para futuras investigaciones es posible mejorar la t&#233;cnica empleada utilizando  modelos no param&#233;tricos para los modelos del proceso y de las respectivas  fallas. Debido a que la din&#225;mica del control var&#237;a para cada valor de referencia  se recomienda hallar un modelo de dicha din&#225;mica a fin de reducir los bancos  de modelos utilizados. Otro aspecto a tomar en cuenta para futuros estudios  el de incluir v&#225;lvulas no lineales o transmisores con retardo de tiempo  y estudiar su comportamiento.</FONT></P>     <P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17" SIZE="3"><B>6. Referencias Bibliogr&#225;ficas</B></FONT></P>     <!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">1. Isermann Rolf. Process Fault Detection Based on Modelling and Estimation  Methods &#150; A Survey. Automatica Vol 20 Nro. 4 1984.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329886&pid=S0254-0770200500010000600001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">2. Willsky A., Chow Analytical redundancy and the design of robust failure  detection systems. IEEE Transaction Automatic Control. Vol. AC 29, 1984.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329887&pid=S0254-0770200500010000600002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">3. Bokor, V., Naggy Y. Reactor noise analysis: aplplying multivariable AR&amp;ARMA  methods. 2do taller Europeo de di&#225;gn&#243;stico de fallas, Espa&#241;a 1987.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329888&pid=S0254-0770200500010000600003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">4. Gertler, J., Structured Residuals for Fault Isolation, Disturbance Decoupling  and Modelling error Robusteness. IFAC On-line Fault Detection and Supervision  in the Chemical Process Industries, Delaware, USA 1992.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329889&pid=S0254-0770200500010000600004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">5. P. Amann, E. Alcorta Garcia, B Koeppen-Seliger, P.M. Frank. Knowledge and  data based models for fault diagnosis.<B> </B>Journal on Systems Analysis, 1998.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329890&pid=S0254-0770200500010000600005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">6. Garc&#233;s Sayra. Propuesta de un Sistema Autom&#225;tico para Detecci&#243;n y Diagn&#243;stico  de Fallas. Tesis de Grado Universidad de los Andes. M&#233;rida, Venezuela,  1999.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329891&pid=S0254-0770200500010000600006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">7. Sun, D., Hoo, K. A robust transition control structure for time-delay systems.  Int. Journal of Control, 72, 1992.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329892&pid=S0254-0770200500010000600007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">8. Tarantino, R. Detecci&#243;n de Fallas en Sistemas Din&#225;micos lineales variantes  en el tiempo. Proyecto de Grado. Universidad de los Andes. M&#233;rida, Venezuela,  1999.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329893&pid=S0254-0770200500010000600008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">9. Smith, C. Corripio, A. Principles and Practice of Automatic Process Control.  John Wiley &amp; Sons Inc., 1997.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329894&pid=S0254-0770200500010000600009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">10. Gonz&#225;lez Duberlis. Comparaci&#243;n y Aplicaci&#243;n de M&#233;todos de Identificaci&#243;n.  Tesis de Grado. Universidad de los Andes. M&#233;rida, Venezuela 2000.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329895&pid=S0254-0770200500010000600010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">11. Ljung L. Systems Identification: Theory for Users. Prentice Hall. 1987.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329896&pid=S0254-0770200500010000600011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><P ALIGN="justify"><FONT COLOR="#1f1a17">12. Meyer, Probabilidad y Estad&#237;stica. Adisson &amp; Wesley. 1970.</FONT>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2329897&pid=S0254-0770200500010000600012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> ]]></body>
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