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<journal-title><![CDATA[Revista de la Facultad de Ingeniería Universidad Central de Venezuela]]></journal-title>
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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Sensor capacitivo como dispositivo de medida del estado de orden de objetos discretos]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This article describes the development of an electrical capacitance system to measure the structural order of an array of equally sized quasi-two dimensional objects. A measurement device was designed and built based on an AC capacitive measurement circuit. A system of discs was built such that the structural order could be varied between a cubic and a hexagonal packing. Measurements of the capacitance of the system were taken using electrodes of size comparable to the diameter of the discs. Experiments and theoretical predictions show a deviation of 0.23%.]]></p></abstract>
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<kwd lng="es"><![CDATA[Sensor capacitivo]]></kwd>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><span style="font-family: Verdana; font-weight: 700">Sensor  capacitivo como dispositivo de medida del estado de orden de objetos discretos</span></p>     <p align="center"><b><font size="2"><span style="font-family: Verdana">F</span></font><span style="font-size: 10.0pt; font-family: Verdana">ranklin  Peña Polo<sup>1</sup>, Yanitza Trosel<sup>1</sup>, Ivan Sánchez<sup>2</sup>,  Werner Bramer-Escamilla<sup>3</sup></span></b></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">1 Laboratorio de Física de  Fluidos y Plasmas, Centro de Física, Instituto Venezolano de Investigaciones  Científicas, Caracas, Venezuela.</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">2 Laboratorio de Física  Estadística de Sistemas Desordenados, Centro de Física, Instituto Venezolano de  Investigaciones Científicas. Caracas, Venezuela. e-mail: <a href="mailto:ijsanche@ivic.gob.ve">ijsanche@ivic.gob.ve</a></font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">3 Laboratorio de Física de la  Materia Condensada, Centro de Física, Instituto Venezolano de Investigaciones  Científicas. Caracas, Venezuela. e-mail: <a href="mailto:wbramer@gmail.com"> wbramer@gmail.com</a></font></p>     <p align="justify"><b><font size="2" face="Verdana">RESUMEN</font></b></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">Se describe la implementación  de un sistema capacitivo para la medición del orden estructural que conforman un  conjunto de objetos bidimensionales, todos de igual forma. El dispositivo de  medición se diseñó y construyó usando para ello un circuito de medición  capacitiva CA. Se construyó un sistema compuesto de discos al cual se le puede  variar su orden estructural entre un arreglo cúbico y uno hexagonal. Se  realizaron medidas de la capacitancia del sistema usando electrodos de un tamaño  comparable al diámetro de los discos. Los experimentos comparados con los  resultados teóricos mostraron una discrepancia del 0,23%.</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana"><b>Palabras clave</b>: Sensor  capacitivo, Fracción de ocupación, Transición de ordenamiento 2D.</font></p>     <p align="center"> <span style="font-size: 10.0pt; font-family: Verdana; font-weight: 700"> Capacitive sensor to measure the order state of discrete objects</span></p>     <p align="justify"><b><font size="2" face="Verdana">ABSTRACT</font></b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font size="2" face="Verdana">This article describes the  development of an electrical capacitance system to measure the structural order  of an array of equally sized quasi-two dimensional objects. A measurement device  was designed and built based on an AC capacitive measurement circuit. A system  of discs was built such that the structural order could be varied between a  cubic and a hexagonal packing. Measurements of the capacitance of the system  were taken using electrodes of size comparable to the diameter of the discs.  Experiments and theoretical predictions show a deviation of 0.23%.</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana"><b>Keywords</b>: Capacitive  sensor, Packing fraction, Ordering transition.</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">Recibido: noviembre 2012  Recibido en forma final revisado: noviembre 2013</font></p>     <p align="justify"><b><font size="2" face="Verdana">INTRODUCCIÓN</font></b></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">El desarrollo de técnicas para  monitorizar el ordenamiento estructural de sistemas discretos, es cada día más  relevante dadas las crecientes necesidades industriales (Smith &amp; Stamp, 2000;  Park et al. 2010) y científicas. En la industria es vital contar con sistemas  que sean capaces de agrupar, ordenar y empacar a alta velocidad grupos de  objetos de igual forma en las líneas de producción. Para incrementar la  efectividad de estos procesos, deben existir sensores de ordenamiento que ayuden  a dichos procesos. En el ámbito científico el interés en el ordenamiento  estructural es muy amplio, por ejemplo por su relevancia en las transiciones de  fase (Schick, 1981; Russel, 1990), el estudio de materiales amorfos (Hufnagel,  2004), la relación entre orden y funcionalidad en sistemas biológicos (Weiner &amp;  Wagner, 1998) y el ordenamiento como consecuencia de alguna forma de  autorregulación como el fenómeno de la disyunción columnar (Goehring &amp; Morris,  2005).</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">A nivel industrial, la  evaluación de ordenamiento muchas veces se realiza a través de técnicas  avanzadas de reconocimiento de patrones y análisis de imágenes (Morrow et al.  1991; Nechval, 1994; Markus et al. 1987). La implementación de un sistema de  reconocimiento necesita de la obtención de la imagen y su posterior  procesamiento computarizado. Esto se podría traducir en elevados costos sobre  todo para pequeñas industrias (un sistema con capacidad de análisis en tiempo  real puede estar entre los 5000 USD y los 10000 USD o más, dependiendo de la  complejidad de la aplicación). Aunque algunos sistemas de inspección  automatizada por análisis de imágenes cuentan con la capacidad de hacer  reconocimiento en tiempo real, siempre es útil poder contar con alternativas más  sencillas y económicas.</font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">A nivel molecular, el  ordenamiento estructural suele ser evaluado utilizando la función de correlación  de pares (Waseda, 1981) o el parámetro de orden orientacional Q<sub>6</sub> (Steinhardt  et al. 1983), los cuales suelen ser usados también en sistemas macroscópicos. El  ordenamiento cristalino en sistemas de muchos componentes, está asociado con la  periodicidad estructural y en eso se basan algunos algoritmos para detectarlo.  Sin embargo, para casos sencillos, de pocos componentes, en los cuales la  evaluación se hace a la escala del tamaño del componente, se puede establecer  una relación directa entre el orden estructural y la fracción de ocupación  (entendida como el volumen ocupado por los componentes entre el volumen total de  la zona estudiada). Algunos casos se ilustran en la <a href="#fig1">Figura 1</a>.</font></p>     <p align="center"><a name="fig1"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig1.gif" width="524" height="527"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">En casos sencillos como los de  la <a href="#fig1">Figura 1</a>, monitorizar el ordenamiento puede resolverse  monitoreando la fracción de ocupación. Una de las estrategias más utilizadas en  el campo del manejo de sólidos y polvos es la medición de concentración de  sólidos usando técnicas capacitivas (Wang et al. 2009; Mohamad et al. 2011). En  este trabajo presentamos un ejemplo de determinación de transición entre dos  estados con diferente configuración estructural (ambos ordenados) para un  arreglo de discos, a partir de medidas capacitivas de la fracción de ocupación  usando un dispositivo de medición a la escala del diámetro de un disco. El  cambio estructural entre estados se ilustra en la <a href="#fig2">Figura 2</a>.  Para un caso sencillo como éste, se puede obtener una expresión analítica que  describe la variación de la fracción de ocupación entre el estado de menor  ocupación (arreglo cuadrado) al de mayor ocupación (arreglo hexagonal). El  cambio en capacitancia será proporcional al cambio en fracción de ocupación. El  ángulo &#952; definido por los centros de tres discos, es el único grado de libertad  necesario para describir la transición. Varía desde &#952;=0° para el arreglo  cuadrado hasta &#952;=30° para el arreglo hexagonal.</font></p>     <p align="center"><a name="fig2"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig2.gif" width="467" height="465"></a></p>     
]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Dos cantidades son importantes  para determinar la capacitancia: la intersección entre el área cuadrada de los  electrodos y los discos Ac y la intersección entre el área cuadrada de los  electrodos y el espacio intersticial entre discos Ai. Ambos pueden expresarse  analíticamente en términos del ángulo &#952;, del radio r de los discos y del lado b  del electrodo cuadrado según:</font></p>     <p align="center"><a name="ec1"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu1.gif" width="504" height="103"></a><a name="ec2"><img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu2.gif" width="505" height="109"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">La capacitancia total (<i>C<sub>T</sub></i>)  para el caso sencillo que aquí presentamos nos queda:</font></p>     <p align="center"><a name="ec3"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu3.gif" width="330" height="58"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">donde: &#949;<sub>0</sub> es la  permitividad del vacío, &#954;<sub>1</sub> y &#954;<sub>2</sub> son las permitividades  relativas de los discos de acrílico (</font><font size="2" face="Symbol">~ </font><font face="Verdana" size="2">3,4) y del espacio intersticial entre  discos (aire </font><font size="2" face="Symbol">~</font><font face="Verdana" size="2">1)  respectivamente, y <i>l</i> es la distancia entre las placas del condensador. La  variación máxima de la capacitancia (<i>&#916;C<sub>T</sub></i>) entre el arreglo  cuadrado y el arreglo hexagonal, en forma general, viene dado por:</font></p>     <p align="center"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu4.gif" width="386" height="69"></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">donde: &#916;&#954; es la diferencia  entre las permitividades de los discos y del espacio intersticial (&#954;1-&#954;2).</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Como era de esperar, la  variación de la capacitancia no depende únicamente de la variación de la  fracción de ocupación, sino también de la diferencia entre la permitividad de  los materiales que componen a los discos, así como del espacio intersticial. En  general, el incremento en <i>&#916;C<sub>T</sub></i>, y, por ende, la sensibilidad  del sensor, depende de la escogencia adecuada de los materiales que conforman  tanto los discos como del espacio intersticial; no obstante, como se verá más  adelante (en la función de transferencia del circuito) la respuesta del circuito  de medida puede aumentarse incrementándose el voltaje de excitación.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Por último, en un caso más  general que el que se presenta aquí, como por ejemplo uno en el cual existan  discos con diferencia de tamaños y alturas así como de variación de materiales  (diferentes valores de permitividad), la complejidad del problema se incrementa  muy por encima de lo que se ha mostrado anteriormente. Existe, no obstante, una  forma de obtener resultados que permitan seguir usando este sistema para  realizar la medida. La forma de poder distinguir el grado de orden y a su vez el  tipo de materiales involucrados es la siguiente: se realizan curvas de  calibración con las diferentes configuraciones de tamaño y materiales con los  que se vaya a trabajar. Si dichas curvas no se cruzan entre sí el sistema podrá  distinguir unívocamente tanto los materiales involucrados así como el factor de  ocupación que posee. Si por el contrario las curvas de calibración se cruzan en  uno o más puntos, sólo podrá ser distinguible el sistema en las zonas donde no  se crucen las curvas.</font></p>     <p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">METODOLOGÍA</font></b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">El sistema de capacitancia  eléctrica construido se compone de un sensor capacitivo, una unidad de medición  de capacitancia (UMC), una interface para la adquisición de datos por  computadora de modelo USB-6009 de la National Instruments (DAQ Multifunción de  14 Bits, 48 kS/s) y un programa de control y adquisición. El sensor capacitivo  consta de dos placas de cobre, llamadas electrodos, las cuales están dispuestas  paralelamente y separadas una distancia de ~5mm entre sí, esta distancia puede  ser variada según se requiera. La UMC se basa en un circuito de medición de  capacitancia (<a href="#fig3">Figura 3(a)</a>). La función de transferencia del  circuito está dada por:</font></p>     <p align="center"><a name="ec5"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu5.gif" width="393" height="78"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">donde: &#969; es la frecuencia  angular de excitación que se obtiene de un generador de funciones, <i>C<sub>f</sub></i>  y <i>R<sub>f</sub></i> son la capacitancia y resistencia de retroalimentación  respectivamente (Yang, 1996). La función de transferencia (<a href="#ec5">ecuación  5</a>) se simplifica si se toma un valor de Rf que satisfaga |j&#969;C<sub>x</sub>R<sub>f</sub>|&gt;&gt;  1 (en el caso específico de nuestro montaje <i>R<sub>f</sub></i> =22 M&#937;)  quedando como:</font></p>     <p align="center"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15ecu6.gif" width="364" height="71"></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Los sistemas de medición  capacitivos que se rigen por el circuito y las funciones de transferencia  mencionados anteriormente, son llamados circuitos de medida de capacitancia AC.</font></p>     <p align="center"><a name="fig3"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig3.gif" width="568" height="679"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">La <a href="#fig3">Figura 3(b)</a>  muestra el esquema completo del sistema de medición. La señal de entrada y la de  referencia es proporcionada por un generador de funciones. La señal de  excitación se aplica al sensor <i>C</i><sub><i>x</i></sub>, el voltaje <i>V<sub>o</sub></i>  del conversor C-V es amplificado para luego ser filtrado con un filtro activo  pasa banda de segundo orden centrado en 10kHz. Las dos últimas etapas comprenden  lo que es la fase sensitiva de demodulación (FSD) de la señal medida. La señal  de referencia del generador de señal es retrasada por un desplazador de fase  para el ajuste de fase, luego es sumada con la señal proveniente del sensor y,  por último, pasa por un detector de envolvente constituido por un diodo activo  de media onda y un filtro pasa bajo. Los valores de voltaje medidos son  almacenados en un computador empleando una tarjeta de adquisición multifuncional  de 14 Bits, 48 kS/s, la cual es controlada por medio de un software desarrollado  en lenguaje G.</font></p>     <p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">MECANISMO PARA LA GENERACIÓN  DE TRANSICIONES ENTRE ARREGLOS CUADRADOS Y HEXAGONALES</font></b></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Con el propósito de generar  variaciones entre los arreglos cuadrados y hexagonales, se diseñó y construyó un  mecanismo que realiza en forma automática la transición de un conjunto de discos  de un arreglo cuadrado a uno hexagonal (<a href="#fig4">Figura 4(b)</a>). Este  mecanismo está motorizado a través de un servo motor (tipo ROB-09064) el cual es  controlado usando la plataforma de prototipos electrónicos de fuente abierta  Arduino (Arduino, 2006).</font></p>     <p align="center"><a name="fig4"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig4.gif" width="549" height="439"></a></p>     
]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Los discos circulares  utilizados fueron hechos de plexiglás con 60 mm de diámetro y una altura de 4  mm. El sensor capacitivo fue construido a partir de dos placas de baquelita, las  cuales fueron grabadas usando cloruro férrico. Los electrodos de cobre de las  placas de baquelita se realizaron de forma cuadrada con dimensión de 60x60 mm<sup>2</sup>.</font></p>     <p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">RESULTADOS Y DISCUSIÓN</font></b></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">La <a href="#fig5">Figura 5 </a> muestra los resultados obtenidos para los casos:</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">1) Transición del arreglo  cuadrado (A) al arreglo hexagonal (B).</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">2) Ausencia de material (C)  entre los electrodos del sensor.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">3) Sensor completamente lleno  de material (D).</font></p>     <p align="center"><a name="fig5"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig5.gif" width="482" height="573"></a></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Los resultados del caso (1)  muestran que el dispositivo posee suficiente sensibilidad para poder distinguir  entre los arreglos cuadrados y hexagonales.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">La <a href="#fig6">Figura 6</a>  muestra la comparación entre las medidas realizadas de la transición desde el  arreglo cuadrado al hexagonal y el cálculo numérico de las <a href="#ec1"> ecuaciones (1)</a>, <a href="#ec2">(2)</a> y <a href="#ec3">(3)</a>. El valor de  capacitancia total calculado numéricamente se obtiene a partir de las <a href="#ec1">ecuaciones (1)</a>, <a href="#ec2">(2)</a> y <a href="#ec3">(3)</a>  pesada con la permitividad del PMMA y del aire, respectivamente. Los  experimentos reproducen el comportamiento teórico esperado con una desviación no  mayor al 0,23% del valor teórico.</font></p>     <p align="center"><a name="fig6"> <img border="0" src="/img/fbpe/rfiucv/v29n1/art15fig6.gif" width="488" height="522"></a></p>     
]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">CONCLUSIONES</font></b></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Se ha presentado un sistema de  medición capaz de monitorizar la transición entre dos estados ordenados de un  conjunto de discos, utilizando técnicas capacitivas. Los resultados obtenidos  con el dispositivo construido confirman su alta sensibilidad para discernir  entre dos tipos de ordenamiento en dos dimensiones, siempre que se tenga una  relación directa entre el ordenamiento y la fracción de ocupación. Los  resultados experimentales</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">concuerdan fielmente con la  curva teórica con una exactitud de al menos 0,23%. Su simplicidad, bajo costo y  robustez mecánica, en comparación con otros sistemas basados, por ejemplo, en  procesamiento de imágenes, lo convierten en una alternativa en el momento de  diseñar un sistema de inspección automatizada para ordenamiento de objetos  discretos.</font></p>     <p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">REFERENCIAS</font></b></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">1. Arduino. (2006). Open-source  electronics prototyping platform. <a href="http://arduino.cc/"> http://arduino.cc/</a>.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=1894157&pid=S0798-4065201400010001500001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">2. Goehring, L. &amp; Morris, S.W.  (2005). Order and disorder in columnar joints. Europhysics Letters, Vol 69, p  739.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">3. Hufnagel, T.C. (2004).  Amorphous materials: Finding order in disorder. Nature Materials, Vol 3, p 666.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">4. Markus, M., Müller, S. C.,  Plesser, T., Hess, B. (1987). On the recognition of order and disorder.  Biological Cybernetics, Vol 57, p 187.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">5. Mohamad, E.J. , Marwah,  O.M.F., Rahim, R.A., Rahiman, M.H.F., Muji, S.Z.M. (2011). Electronic design for  portable electrical capacitance sensor: A multiphase flow measurement. 4th  International Conference on Mechatronics (ICOM).</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">6. Morrow, C., Heinemann, P.,  Sommer, H., Crassweller, R., Cole, R., Tao, Y., Varghese, Z., Deck, S. (1991).  Automated inspection of fruits and vegetables. HortScience, Vol 26, p 712.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">7. Nechvachval, N.A. (1994).  Combining sensor information from automated visual inspection for quickest  detection of disorders. Proc. SPIE 2355 Sensor Fusion VII, Vol 2355, p 248.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">8. Park, C., Choi, S., Won, S.  (2010). Vision-based inspection for periodic defects in steel wire rod  production. Optical Engineering, Vol 49, p 017202-017202-10.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">9. Russel, W.B. (1990). On the  dynamics of the disorder-order transition. Phase Transitions, Vol 21, p 127.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">10. Schick, M. (1981). The  classification of order-disorder transitions on surfaces. Progress in Surface  Science, Vol 11, p 245.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">11. Smithh, M. L. &amp; Stamp, R.  J. (2000). Automated inspection of textured ceramic tiles. Computers in Industry,  Vol 43, p 73.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">12. Steinhardt, P.J., Nelson,  D. R. &amp; Ronchetti, M. (1983) Numerical Evidence for bee ordering at the surface  of a critical fcc nucleus. Phys. Rev. B. 28, 784.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">13. Wang, H., Yang, W.Q.,  Proctor, I., Taylor, J. (2009). Online monitoring and flow regime identification  of fluidised bed drying and granulation processes. International Workshop on  Imaging Systems and Techniques, Shenzhen, China.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">14. Waseda, Y. (1981). The  structure of non-crystalline materials, liquids and amorphous solids. New York:  McGraw-Hill.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">15. Weiner, S. &amp; Wagner, H.D.  (1998). The material bone: structure-mechanical function relations. Annual  Review of Materials Science, Vol 28, p 271.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">16. Yang, W.Q. (1996). Hardware  design of electrical capacitance tomography systems. Meas. Sci. Technol. Vol 7,  p 225.</font></p>      ]]></body>
<body><![CDATA[ ]]></body>
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