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<publisher-name><![CDATA[AutanaBooks S.A.S. Revista de la Universidad Experimental Politécnica Antonio José de Sucre, Vice Rectorado Puerto Ordaz, Venezuela, gestionada en Ecuador por AutanaBooks]]></publisher-name>
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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Modelado y simulación del medidor de la sensación instantanea de flicker del flickermetro de la norma iec-61000-4-15 mediante redes neuronales]]></article-title>
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<institution><![CDATA[,Universidad Central de Venezuela Escuela de Ingeniería Eléctrica Facultad de Ingeniería]]></institution>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><b><font face="Tahoma">MODELADO Y SIMULACIÓN DEL MEDIDOR DE LA  SENSACIÓN INSTANTANEA DE FLICKER DEL FLICKERMETRO DE LA NORMA IEC-61000-4-15  MEDIANTE REDES NEURONALES </font></b></p>     <p align="center"><font face="Tahoma" size="2">Montoya Andrade, Dan El Andrés&nbsp;&nbsp;  Regoli, Carolina </font></p>     <p align="center"><font face="Tahoma" size="2">El MSc. Dan El Andrés Montoya  Andrade y la Ing. Carolina Regoli son Profesor Agregado y Profesora Instructora  respectivamente en la Facultad de Ingeniería, Escuela de Ingeniería Eléctrica,  Universidad Central de Venezuela, Ciudad Universitaria, Av. Los Estadios, Los  Chaguaramos, Caracas, Fax 0212-6053105, teléfonos y correos electrónicos  0212-6053106, <a href="mailto:danelmontoya@gmail.com">danelmontoya@gmail.com</a>&nbsp;  y 0212-6053114, <a href="mailto:carolina.regoli@gmail.com">carolina.regoli@gmail.com</a>&nbsp;  respectivamente. </font></p>     <p><b><font face="Tahoma" size="2">Resumen: </font></b></p>     <p align="justify"><font face="Tahoma" size="2">La norma IEC-61000-4-15 plantea  el diseño de un medidor de flicker de cinco etapas. Una primera etapa de  adaptación de la señal, una segunda etapa de demodulación de la fluctuación de  tensión, una tercera etapa de filtros ponderadores que simulan la respuesta en  frecuencia a las fluctuaciones del sistema de visión humana, una cuarta etapa de  premediación cuya salida representa la sensación instantánea de flicker, y una  quinta etapa que realiza un análisis estadístico del nivel de flicker  permitiendo el cálculo de parámetros de evaluación significativos (Pst y Plt).  El objetivo del presente trabajo es modelar y simular hasta la cuarta etapa el  flickermetro de la norma IEC-61000-4-15 mediante redes neuronales. Para esto se  cuenta con un modelo de simulación del flickermetro realizado en Simulink  desarrollado y probado según el estándar IEC-61000-4-15. Este modelo sirvió de  referencia para efectos de validación y a través del mismo se obtuvieron los  datos con los cuales se entrenó y probó la red neural. Mediante el estudio  comparativo realizado se pudo concluir que el modelo neural representa  satisfactoriamente al flickermetro de la norma IEC-61000-4-15. </font></p>     <p align="justify"><font face="Tahoma" size="2"><b>Palabras clave:</b> Flicker/  Red neuronal/ Sensación instantánea de flicker/ Flickermetro/ IEC-61000-4-15. </font></p>     <p align="justify"><b><font face="Tahoma" size="2">MODELATION AND SIMULATION OF  THE FLICKER INSTANTANEOUS SENSATION TESTER OF THE IEC- 61000-4-15 STANDARD  FLICKERMETER BASED ON NEURAL NETWORKS </font></b></p>     <p align="justify"><b><font face="Tahoma" size="2">Abstract: </font></b></p>     <p align="justify"><font face="Tahoma" size="2">The standard IEC-61000-4-15  present a five stages flickermeter design. A first one of signal adaptation, a  second one that it demodulates and retrieveres of flicker voltage fluctuation, a  third stage of filtered that it simulates the frequency respond of the human  vision if this is excited by flicker fluctuations, a stage four of signal  averaged with output signal the flicker instantaneous sensation, and a stage  five that it makes an statistical analysis of the flicker level allowing the  calculus of important parameters Pst and Plt. The object of this work is to  model and to simulate a part of IEC-61000-4-15 flickermeter through neural  network. For that we have a Simulink simulation model flickermeter developed and  proved on IEC-61000- 4-15 standard. This model was used as reference to  comparison and also it was used to generate the data to prove and validate the  neural network model. Through of a comparative analysis it was concluded that  the flickermeter neural network model represents satisfactorily the  IEC-61000-4-15 flickermeter. </font></p>     <p align="justify"><font face="Tahoma" size="2"><b>Keywords: </b>Flicker/ Neural  Network/ Flicker Instantaneous Sensation/ Flickermeter/ IEC-61000-4-15. </font> </p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Tahoma" size="2">Manuscrito finalizado en  Caracas, Venezuela el 2008/09/31, recibido el 2008/10/29, en su forma final  (aceptado) el 2009/01/28. </font></p>     <p align="justify">I<font size="2" face="Verdana">. INTRODUCCIÓN </font></p>     <p align="justify"><font size="2" face="Verdana">La fluctuación en magnitud es  la primera causa del efecto lumínico flicker. Para cuantificar el grado del  voltaje flicker y facilitar la solución de los problemas relativos a él, se han  propuesto varias definiciones y estándares [1]. Los estándares definen niveles  de voltaje flicker permisibles en función de la frecuencia o índices de voltaje  flicker, que es también expresado en función del voltaje flicker a varias  frecuencias. Las redes neuronales, combinadas con el análisis ondícula de  señales, se han usado ampliamente en la clasificación de las perturbaciones  típicas en las mediciones de la calidad de potencia. Esto se observa en los  trabajos de Santoso [2], Angrisani [3], Gaouda [4], Gaing [5], [6] y Lin [7]. En  los trabajos de Lee [8] y Janik [9] se aplican las redes neuronales,  conjuntamente con la Transformada S y las Máquinas de Soporte Vectorial, para  clasificar eventos que afectan la calidad de potencia.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">En el trabajo de Szlosek [10]  se utilizó una red neuronal para la determinación de la sensación instantánea de  flicker del flickermetro de la norma IEC-61000-4-15. En este trabajo se entrena  una red neural con señales de variación de voltaje flicker senoidales de 20 Hz y  amplitudes 0.15, 0.199, 0.35, 0.45 y 1 respectivamente. Para estas entradas se  obtiene una red neural con precisión de 10-5 en 1500 iteraciones. El presente  trabajo tiene como objetivo modelar y simular parte del flickermetro de la norma  IEC-61000-4-15, mediante redes neuronales para todo el rango de frecuencias y  amplitudes de variaciones de voltaje flicker senoidales, especificadas en el  estándar IEC-61000-4-15. Específicamente se modelará la salida del bloque 4 o  sensación instantánea de flicker de la norma antes mencionada. Para alcanzar el  objetivo se utilizó un modelo de simulación del flickermetro, desarrollado y  validado según la norma IEC- 61000-4-15 en la plataforma Simulink. A través de  este modelo se generaron los datos de entrenamiento y prueba necesarios para el  diseño de la red. Adicionalmente este modelo sirvió de referencia en la  estimación de la eficiencia del medidor de flicker implementado a través de la  red neural. Los resultados encontrados durante las pruebas permiten afirmar que  se puede implementar mediante una red neural el flickermetro de la norma  IEC-61000-4-15 de manera satisfactoria. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>II. DESARROLLO </b></font> </p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>1. Marco Teórico </b></font> </p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>1.1. Redes Neuronales </b> </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Las redes neuronales son  modelos computacionales que tratan de imitar la función de aprendizaje del  cerebro. Están formadas por un conjunto de unidades de procesamiento llamadas  “neuronas” conectadas en paralelo, que pueden filtrar y procesar las entradas  para tomar decisiones. Una red neuronal se parece al cerebro en dos ideas  básicas: La red necesita una cantidad de información para entrenarse y las  conexiones entre las neuronas se usan para almacenar la información. El proceso  utilizado para adaptar las conexiones o sinapsis se llama aprendizaje. </font> </p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Para imitar las neuronas  biológicas mediante neuronas artificiales se deben hacer algunas restricciones,  llegándose a un modelo muy simplificado de neurona artificial que reproduce  básicamente la actuación de las neuronas naturales. El uso de redes neuronales  ofrece ventajas tales como el aprendizaje adaptativo, el procesamiento en  paralelo en tiempo real, la tolerancia a fallas por la codificación redundante  de la información y la capacidad autoorganizativa. El modelo de neurona  artificial tiene cuatro elementos básicos: Un conjunto de sinapsis o enlaces  caracterizados por un peso wi, un sumador que recibe las señales de las entradas  xi de la neurona, las pondera por los respectivos pesos sinápticos y luego las  suma, una función de activación o transferencia &#952; para limitar la amplitud de la  salida de la neurona (existen varios tipos de funciones como la función escalón,  la rampa y la sigmoidea) y una entrada b directa e independiente, que puede ser  positiva o negativa. El modelo de la neurona descrito anteriormente se presenta  en la ecuación 1 [13].</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09.1.gif" width="308" height="74"></font></p>     
]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Existen muchos tipos de redes  neuronales artificiales y cada una tiene su método de conectividad y a su vez su  algoritmo de entrenamiento. Las más comunes son la red neuronal de una sola capa  y la red neuronal de propagación multicapa. El entrenamiento de una red neuronal  se asemeja a las técnicas de ajuste de curvas, donde las entradas y salidas de  una función son conocidas pero la función en sí misma no lo es. El proceso de  entrenamiento de una red neuronal consiste en encontrar los valores de los pesos  sinápticos que conectan las entradas a la primera capa oculta, los pesos entre  las capas ocultas y los pesos de la capa oculta previa a la capa de salida. Para  esto debe calcularse el error de salida como la diferencia entre las salidas  obtenidas a través de la red y las salidas deseadas. Una vez determinado el  error de salida se propaga hacia atrás para encontrar los cambios adecuados en  los pesos sinápticos de tal forma que se minimice el error de la salida. Este  método de entrenamiento llamado retropropagación, minimiza el error mediante el  algoritmo del máximo descenso que requiere del gradiente local en la capa de  salida, respecto a los pesos sinápticos, el cual a su vez se propaga hacia la  capa de entrada para tener un gradiente local para cada neurona en cada capa  [13]. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>1.2 Flickermetro de la Norma  IEC-61000-4-15 </b></font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">La norma IEC-61000-4-15 plantea  el diseño de un medidor de flicker de cinco etapas. La primera etapa consta de  un adaptador de tensión y un circuito para comprobación de calibración. La  segunda etapa es un demodulador cuadrático recuperador de la fluctuación de  tensión. La etapa 3 se compone de dos filtros dispuestos en cascada y un  selector de margen. El primer filtro elimina las componentes de corriente  continua y de rizado al doble de la frecuencia de salida del demodulador. El  segundo filtro simula la respuesta en frecuencia a las fluctuaciones del sistema  de visión humana. La etapa 4 está compuesta por un multiplicador cuadrático y un  filtro pasabajo de primer orden. La salida de esta etapa representa la sensación  instantánea de flicker. La etapa 5 realiza un análisis estadístico del nível de  flicker permitiendo el cálculo de parámetros de evaluación significativos. En el  diagrama de la <a href="#f1">Figura 1</a>, al final del artículo, se presentan  las diferentes etapas del flickermetro de la norma IEC-61000-4-15.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">En el presente trabajo los  autores proponen modelar y simular los bloques 3 y 4 del flickermetro mediante  una red neuronal multicapa.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>     <p align="center"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09f1.gif" width="605" height="363"></font></p>     
<p align="justify"><b><font face="Verdana" size="2">2. Metodología </font></b></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">El diseño de la  red neuronal se realizó en Matlab tomando como datos de entrenamiento y prueba  variaciones de voltaje flicker senoidales. Los datos de entrenamiento y prueba  se obtuvieron del modelo de simulación realizado por Montoya [12] presentado en  la <a href="f2">Figura 2.</a></font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09f2.gif" width="594" height="245"></font></p>     
]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Este modelo fue desarrollado y  simulado en el ambiente Matlab a través del Simulink y comprende los siguientes  bloques generales recomendados en el estándar IEC-61000- 4-15: </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">• Bloque 1 adaptador de  voltaje: En el estándar IEC-61000- 4-15 se especifica que debe escalarse el  valor eficaz de la tensión de entrada a un nivel de referencia interno. De esta  manera, pueden independizarse las medidas del flicker del nivel real de la  tensión de entrada para así expresarlas en valores porcentuales. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">• Bloque 2 demodulador  cuadrático: El propósito de este bloque es recuperar la fluctuación de tensión  elevando al cuadrado la tensión de entrada escalada, con el fin de simular el  comportamiento de una lámpara. Este bloque se modela en el Simulink mediante una  función cuadrática </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">• Bloque 3 filtros pasabajo,  pasaalto y de ponderación: El bloque 3 está conformado por tres filtros, un  retentor de orden cero y un amplificador. Los primeros dos filtros forman el  filtro pasabanda que elimina la componente DC y la componente al doble de la  frecuencia de alimentación. El primer filtro es pasaalto de primer orden con  frecuencia de corte 0.05 Hz. El segundo filtro es Butterworth pasabajo de décimo  orden con frecuencia de corte 42 Hz. El tercer filtro ponderador simula la  respuesta en frecuencia a las fluctuaciones senoidales de tensión de una lámpara  de gas (60 W - 120 V) con filamento enrollado en combinación con el sistema de  visión humano. La función de transferencia del filtro de ponderación se presenta  en la siguiente ecuación:</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09.4.gif" width="366" height="151"></font></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">• Bloque 4 multiplicador  cuadrático y filtro promediador: El propósito de elevar al cuadrado la señal  flicker ponderada es la simulación del modelo de percepción visual no lineal del  sistema ojo-cerebro. El filtro promediador se emplea para simular el efecto de  almacenamiento en el cerebro. Este filtro es modelado con un filtro pasabajo de  primer orden con constante de tiempo &#964; = 300ms. El último elemento del bloque 4  es un amplificador lineal que calibra la medición total a la salida del bloque.  Como se ha comentado, la salida del bloque 4 es una medida de los cambios de  voltaje ponderados por la sensibilidad del sistema lámpara-ojo-cerebro y  representa la sensación instantánea de flicker.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">• Bloque 5 analizador  estadístico en línea de la señal flicker: El análisis estadístico comienza con  el muestreo de la sensación instantánea de flicker a la frecuencia de 100 Hz.  Luego se almacenan 60000 muestras que corresponden a un tiempo de 10 minutos.  Con las muestras almacenadas se realiza un histograma de 64 clases que ayuda a  construir la función distribución acumulativa de la permanencia de la señal  flicker en cada una de las clases del histograma. Con ayuda de la función  distribución acumulativa se calculan por interpolación lineal los percentiles  alisados P0.1, P1, P3, P10 y P50 que son los niveles de flicker excedidos en el  0.1, 1, 3, 10 y 50% del tiempo de medición, respectivamente. Con estos  percentiles se calcula el Pst o índice de severidad del flicker a corto plazo a  través de la ecuación 3. El cálculo del histograma de la función distribución de  probabilidades y del Pst se realizó con rutinas escritas en Matlab.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09f3.gif" width="362" height="105"></font></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Basados en el modelo de  simulación del flickermetro del trabajo de Montoya [12] se generaron para  cientocincuenta (150) variaciones de tensión senoidales, especificadas a través  de la frecuencia y la amplitud, cientocincuenta (150) valores de sensación  instantánea de flicker. La frecuencia de la señal senoidal se varió entre 0.1 y  40 Hz y la amplitud entre 0.0005 y 0.2, obteniéndose sensaciones instantáneas de  flicker entre 0.04 y 25. Debe comentarse que dentro de los valores de  entrenamiento se encuentran los valores de prueba del flickermetro que  recomienda la norma IEC-61000-4-15 para variaciones de voltaje flicker  senoidales y sensación instantánea de flicker unitaria. Con estos valores se  entrenó, mediante el algoritmo de retropropagación, una red neuronal con  entradas la frecuencia y la amplitud de la señal variación de voltaje senoidal y  con salida el valor de la sensación instantánea de flicker. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Partiendo del modelo de red  neuronal de Szlosek [10], de tres (3) capas y doce (12) neuronas para la primera  y segunda capa y una neurona para la tercera capa, se varió el número de capas y  neuronas hasta obtener la red con mejor desempeño. La red que arrojó el menor  error corresponde a una de tres (2) capas. La primera capa está formada por once  (11) neuronas, la segunda capa está formada por seis (6) neuronas y la última  capa por una (1) neurona. El entrenamiento de la red neuronal se detuvo en 25000  ciclos con un error de aproximadamente 10-4. La red neural se presenta en la <a href="f3">Figura 3</a>. </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>     <p align="center"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09.6.gif" width="366" height="370"></font></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>3. Resultados</b> </font> </p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Las primeras veinte (20)  pruebas realizadas a la red neuronal se presentan en la Tabla I. El error  presentado es el relativo y se calculó mediante la diferencia de la sensación  instantánea de flicker, calculada mediante el modelo de simulación, menos el  valor obtenido de la red neuronal entre el valor arrojado por el modelo de  simulación. Se puede observar que el error presente en las pruebas varía entre  0.17 % y 3.34 % obteniéndose un error promedio de 1.08%.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">En una segunda fase de prueba  se entrenó la red neuronal con 150 datos de entradas que incluían los valores de  la <a href="#t1">Tabla 1</a>. En este segundo examen a la red neuronal se obtuvo  una variación del error entre 0.01 % y 15 % y un error promedio de  aproximadamente 3 %.</font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><a name="t1"></a></font></p>     <p align="center"><font face="Verdana" size="2"> <img border="0" src="/img/fbpe/uct/v13n51/art09t1.gif" width="372" height="433"></font></p>     
<p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>4. Análisis de Resultados. </b></font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2">De los resultados obtenidos del  proceso de entrenamiento y prueba de la red neuronal que simula los bloques 3 y  4 del flickermetro de la norma IEC-61000-4-15, se puede comentar lo siguiente: •  Para variaciones de voltaje flicker senoidales, la sensación instantánea de  flicker modelada y simulada con la red neuronal de retropropagación de tres (3)  capas entrenada con veinte (20) datos, presenta un error promedio despreciable  de 1.08% presentándose errores entre 0.17% y 3.34%. • Al aumentar el número de  datos de entrenamiento ciento cincuenta (150) incluyendo las pruebas sugeridas  en el estándar IEC-61000-4-15, el error promedio se ubicó entre 0.01% y 15% con  un error promedio despreciable de 3%. • Debe entrenarse la red neuronal tanto  con variaciones de voltaje flicker senoidales como rectangulares, dado que la  norma IEC-61000-4-15 las exige en sus pruebas. • Estos resultados pueden tomarse  como punto de partida para el modelado del último bloque del flickermetro de la  norma IEC, es decir, podría diseñarse una red neuronal que modele en conjunto  los bloques 3, 4 y 5 del dispositivo medidor de flicker. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>III. CONCLUSIONES </b> </font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="Verdana" size="2">Sobre la base de las pruebas  realizadas al modelo de simulación neuronal del flickermetro de la norma  IEC-61000- 4-15 en todo el rango de frecuencias y amplitudes de variaciones de  voltaje flicker senoidales, especificadas en el estándar IEC-61000-4-15,  incluyendo las pruebas que sugiere la norma, se puede concluir que la red neural  con entradas la frecuencia y la amplitud de la variación del voltaje flicker,  con tres capas con once (11), seis (6) y una (1) neurona respectivamente, y con  salida la sensación instantánea de flicker, modela con un error despreciable el  flickermetro del estándar IEC-61000-4-15. </font></p>     <p align="justify"><font face="Verdana" size="2"><b>IV. REFERENCIAS </b></font> </p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">1. Wierda R. Cuaderno Técnico  Nro. 176. Flicker o parpadeo de las fuentes luminosas. Schneider Electric. 2001. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536672&pid=S1316-4821200900020000900001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">2. Santoso S., et al. Power  Quality Disturbance Waveform Recognition Using Wavelet-Based Neural Classifier -  Part 1: Theoretical Foundation. IEEE Transactions on Power Delivery, Vol. 15,  No. 1, January 2000, P. 222- 228. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536673&pid=S1316-4821200900020000900002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">3. Angrisani L., Daponte P.,  D’Apuzzo M. Wavelet Network-Based Detection and Classification of Transients.  IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 50, No. 5, October  2001, P. 1425- 1435. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536674&pid=S1316-4821200900020000900003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">4. Gaouda A, et al. Pattern  Recognition Applications for Power System Disturbance Classification. IEEE  Transactions on Power Delivery, Vol. 17, No. 3, July 2002, P.677-683. </font> &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536675&pid=S1316-4821200900020000900004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">5. Gaing Z., Huang H. Wavelet-Based  Neural Network for Power Disturbance Classification. Proceedings of IEEE Power  Engineering Society Meeting, July 2003, P. 1621- 1628. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536676&pid=S1316-4821200900020000900005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">6. Gaing Z. Wavelet-Based  Neural Network for Power Disturbance Recognition and Classification. IEEE  Transactions on Power Delivery, Vol. 19, No. 4, October 2004, P. 1560-1568. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536677&pid=S1316-4821200900020000900006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">7. Lin C., Tsao M. Power  Quality Detection with Classification Enhancible Wavelet-Probabilistic Network  in a Power System Proceedings of Generation, IEE Transmission and Distribution  Meeting, Vol. 152, No. 6,. November 2005, P.969-976. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536678&pid=S1316-4821200900020000900007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">8. Lee I., Dash P. An S-Transform  Based Neural Pattern Classifier for Non-Stationary Signals. Proceedings of IEEE  International Conference on Signal Processing, August 2002, P. 1047-1050. </font> &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536679&pid=S1316-4821200900020000900008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">9. Janik P., Lobos T. Automated  Classification of Power- Quality Disturbances Using SVM and RBF Networks. IEEE  Transactions on Power Delivery, Vol. 21, No. 3, July 2006, P. 1663-1669. </font> &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536680&pid=S1316-4821200900020000900009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">10. Szlosek M., et al.  Application of Neural Networks to Voltage Fluctuations Measurement - A Proposal  for a New Flickermeter. Proceedings of 11th IEEE International Conference on  Harmonics and Quality of Power, April 2004, P. 403-407. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536681&pid=S1316-4821200900020000900010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">11. IEC. Norma Internacional.  CEI IEC 61000-4-15. AENOR 1999. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536682&pid=S1316-4821200900020000900011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">12. Montoya D. Realización del  Flickermetro de la Norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ondícula.  Trabajo de ascenso a la categoría de Profesor Agregado, Escuela de Ingeniería  Eléctrica, UCV. Junio 2006. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536683&pid=S1316-4821200900020000900012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">13. Haykin S. Neural Networks,  a Comprehensive Foundation. Prentice Hall. 2005.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=2536684&pid=S1316-4821200900020000900013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> Volumen 13, Nº 51, junio 2009.  pp 137-142 142</font></p>       ]]></body>
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