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Revista Latinoamericana de Metalurgia y Materiales
Print version ISSN 0255-6952
Abstract
BRETHEAU, Thierry; CREPIN, Jérôme and BORNERT, Michel. MATERIALS MECHANICS INSIDE THE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ESTUDO EXPERIMENTAL EM ESCALA MESOSCOPICA DA PLASTICIDADE E DA DEFORMAÇÃO. Rev. LatinAm. Met. Mat. [online]. 2001, vol.21, n.2, pp.21-26. ISSN 0255-6952.
Afin de observar os fenômenos que ocorrem durante a deformação, teste mecanicos foram desenvolvidos em platinas situadas no interior de uma camâra do "scanning electron microscope" (SEM). Elas permitiram a realização dos testes, passo à passo, sem descarga, com um eixo fixo de tracção e para realizar as observações com uma larga gama de aumento. Duas platinas foram obtidas : - uma platina de tracção fixa com uma célula carregada na gama de força 0 -500daN e com um micro-forno para aquecer a proveta até 800°C, - uma platina biaxial, tracção/torsão, defasada com uma carga de tracção /compressão que atinge até ± 1000daN e trela de ± 50Nm. Este sistema foi completado pelo uso de um analisador de imagem para quantificar a morfologia da micro estrutura e de "um electron backscattering diffraction devise" (EBSD) que permite determinar a orientação cristalina local e seguir a evolução sob deformação. A montagem de um a grelha sinótica foi desenvolvida para medir alguns componentes do tenser da deformação local. Elas foram depositadas na superfície do espécimene através de uma técnica de electrolitografia, a distancia entre cada celula é de 1 à 15 mm ou mais. Foi obtido um bom contraste pelo SEM para que a micro-estrutura sub-jacente permaneça visível. De um ponto de vista qualitativo, a deformação da grelha fornece indicações sobre os mecanismos (na escala local) que ocorrem durante a deformação do especimene ; o uso da quantificação fornece os valores médios da deformação para cada fase e funções de distribuição da deformação; mapas de deformação também podem ser calculadas pelo uso de técnicas de análise de imagem.
Keywords : Scanning electron microscope; In situ mechanical tests; Electron backscattering diffraction; Fiducial microgrids; Local strain measurements; Deformation maps; Image analysis.