Resumen

ALFONSO, J. A; LAVELLE, B; GREAVES, E.D  y  SAJO-BOHUS, L. DESARROLLO DE UN MÉTODO PARA LA DETERMINACIÓN DE ESFUERZOS RESIDUALES EN PELÍCULAS UTILIZANDO DIFRACCIÓN DE RAYOS-X DISPERSIVO EN ENERGÍA.. Rev. LatinAm. Met. Mat. [online]. 2002, vol.22, n.2, pp.18-23. ISSN 0255-6952.

Se presente un método sencillo y fácil de reproducir para la determinación de esfuerzos residuales en películas y recubrimientos finos, utilizando difracción de rayos-x dispersivo en energía. El sistema consiste de un generador de rayos-x convencional, un goniómetro con aditamento de textura por el método de Schultz y un detector de estado sólido de alta resolución de Ge de alta pureza conectado a un espectrómetro de rayos-x. El procedimiento fue utilizado para evaluar el esfuerzo residual de una película de Ni depositada vía "sputtering" con magnetrón sobre grafito multicristalino