Abstract

AGUILAR, Claudio; GUZMAN, Danny  and  IGLESIAS, Carlos. Análisis de perfiles de difracción de rayos X de dos materiales metálicos. Rev. LatinAm. Metal. Mater. [online]. 2013, vol.33, n.1, pp.15-32. ISSN 0255-6952.

En el presente trabajo se hace una revisión de dos métodos sencillos de análisis de perfiles de difracción de rayos x, debido a que son una poderosa herramienta para la caracterización de la estructura de los materiales. Se analizan y discuten los métodos tradicionales y modificados de Williamson-Hall y Warren Averbach con sus modelos de deformación. También se discuten los métodos para obtener la probabilidad de fallas de apilamiento, energía de falla apilamiento, factores de contraste de dislocaciones promedio y funciones de distribución de tamaños de cristalitas. Finalmente, como ejemplo, los métodos son aplicados a dos materiales, una aleación Cu-5% en masa de Cr procesada por aleado mecánico y a un acero al manganeso obtenido por fusión convencional y sometido a diferentes grados de compresión en frío.

Keywords : DRX; Warren-Averbach modificado; Williamson-Hall modificado; aleado mecánico.

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