Abstract

QUINTERO, Miguel et al. VALORES DE LOS PARAMETROS DE LA RED Y TRANSICIONES DE FASE PARA LOS COMPUESTOS SEMICONDUCTORES MAGNETICOS Cu2-II-IV-S4(Se4) (II=Mn, Fe, Co; IV=Si, Ge, Sn). Rev. LatinAm. Metal. Mater. [online]. 2014, vol.34, n.1, pp.28-38. ISSN 0255-6952.

Se hicieron medidas de difracción en polvo de rayos X (a 300 K) y análisis térmico diferencial (ATD) sobre dieciseis muestras policristalinas de los compuestos semiconductores magnéticos Cu2-II-IV-S4(Se4) (II: Mn, Fe, Co; IV: Si, Ge, Sn). Se analizaron los patrones de difracción para determinar los valores de los parámetros de la red. Los resultados muestran que diez de ellas tiene la estructura estanita tetragonal I42m , una tiene la estructura tetragonal seudocúbica P4 , cuatro poseen una estructura wurtzitaestannita Pmn21 y dos tienen una estructura seudocúbica F222. Cuando los valores del parámetro efectivo ae = (V/N)^1/3 se grafican contra su peso molecular W, se encuentra que los materiales tetragonales y ortorrómbicos caen sobre la misma línea recta. Los picos en las medidas de ATD fueron usados para determinar el tipo de fusión, así como, la temperatura de fusión. Los datos resultantes junto con la relación de Lindemann fueron utilizados para estimar los valores de la temperatura de Debye θD, así como, los valores de la velocidad del sonido en el material vs.

Keywords : Semiconductores; difracción de rayos X (DRX); análisis térmico diferencial (ATD)..

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