Abstract

DELGADO, Gerzon E et al. Datos de difracción de rayos-X y refinamiento rietveld de los semiconductores calcogenuros ternarios AgInSe₂ y AgInTe₂. Rev. LatinAm. Metal. Mater. [online]. 2015, vol.35, n.1, pp.110-117. ISSN 0255-6952.

Los calcogenuros ternarios AgInSe₂ y AgInTe₂ se estudiaron mediante refinamiento Rietveld utilizando datos de difracción de rayos-X en muestras policristalinas. Ambos compuestos cristalizan con una estructura tipo calcopirita en el grupo espacial I 2d, (N° 122), Z = 4, y parámetros de celda unidad a = 6.0988(2) Å, c = 11.7086(6) Å, V = 435.51(3) ų para AgInSe₂ y a = 6.4431(4) Å, c = 12.6362(9) Å, V = 524.57(6) ų para AgInTe₂. Se reportan mejores datos de difracción de polvo con figuras de mérito M₁₉ = 84.0, F₁₉ = 40.7 (0.0071, 66) para AgInSe₂, y M₂₀ = 80.8, F₂₃ = 39.0 (0.0075, 79) para AgInTe₂.

Keywords : Semiconductores; Calcogenuros; Refinamiento Rietveld; Datos de difracción de polvo.

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