Abstract

GONZALEZ, Leonardo. La indización de patrones de difracción de electrones al alcance de todos y sus aplicaciones: sistemas ortogonales. Parte I. uct [online]. 2008, vol.12, n.49, pp.235-246. ISSN 1316-4821.

Cuando se hace investigación y desarrollo en el campo de la ciencia de materiales, en ocasiones se hace microscopía electrónica de transmisión (MET). Puede ocurrir que el investigador haga alguna difracción de electrones y no tenga la suficiente experiencia y conocimiento para indizar el patrón de difracción o bien pueda indizarlo y con eso da por terminado el trabajo en este campo, desaprovechando así una maravillosa oportunidad para identificar plenamente las fases presentes, e inclusive descubrir nuevas. El método para indizar aquí propuesto consiste en construir la celda recíproca de los sistemas cristalinos ortogonales y del hexagonal compacto, por ser en los que cristalizan los metales y aleaciones, y luego hacer coincidir con la pantalla del microscopio algunos planos recíprocos particulares. La comparación de la singonía y de la sinaxia del patrón teórico con el experimental permitirá hacer la indización. Esto, unido a un análisis químico elemental por análisis de energía dispersiva y/o longitud de onda, permitirá identificar plenamente las fases y así poder inferir en los procesos de producción. Varios ejemplos ilustrarán el método. El presente trabajo será dividido en dos partes: la primera estará dedicada a los sistemas ortogonales (cúbico, tetragonal y ortorrómbico) y la segunda al sistema hexagonal. El método usado para la difracción es el de difracción por área selecta, aunque desde los 80 se ha estado desarrollado el método de la micro-difracción.

Keywords : Patrones de Difracción; Difracción de Electrones; Microscopía Electrónica de Transmisión (MET); Constante de Cámara; Red Recíproca; Sistemas Cristalinos; Índices de Miller.