Abstract

GONZALEZ, Leonardo. La indizacion de patrones de difraccion de electrones al alcance de todos y sus aplicaciones: Sistema HCP. Parte II. uct [online]. 2009, vol.13, n.50, pp.013-024. ISSN 1316-4821.

Como se recordará, este trabajo había sido dividido en dos partes. En esta oportunidad se tratará sobre la indización de patrones de difracción de electrones del sistema hexagonal compacto (hcp). Este es un sistema no ortogonal, razón por la cual se necesita ser más cuidadoso en la elaboración de los patrones estándar. Geométricamente se analizará en detalle la celda hexagonal, así como también las ventajas y desventajas de usar tres índices (Miller) o cuatro índices (Miller-Bravais) para indizar planos y direcciones, y su relación con un álgebra vectorial en el sistema recíproco. En la anterior edición (Parte I) se habían dejado algunos conceptos para que el novel investigador los investigara y los pusiera en práctica. Algunos de estos conceptos serán desarrollados en esta ocasión a fin de esclarecer el método propuesto para indizar patrones de difracción de electrones. El factor de estructura, a veces ignorado en la indización convencional, ha sido analizado, en profundidad, y aplicado a la indización de un patrón de difracción de un acero inoxidable 18/10 deformado a temperatura criogénica y a una matriz de titanio. El método propuesto está dirigido a noveles investigadores. Sin embargo, investigadores experimentados descubrirán, con sorpresa, que muchos patrones de difracción hcp, indizados con el método convencional, han sido mal indizados. El método de difracción empleado es el de área selecta.

Keywords : Indización; Patrones de difracción; Sistema hexagonal; Índices Millar Bravais; Difracción de Bragg.